zeta電位分析儀的革新之處在于什么？
更新時(shí)間：2019-12-03 點(diǎn)擊次數(shù)：1022
zeta電位分析儀容易使用、測(cè)量。對(duì)于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品，也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理，即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。Zeta電位分析儀是采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及FST技術(shù)來分析，并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位。該儀器采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù)，可同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求。Zeta電位分析儀應(yīng)用：乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品）；蛋白質(zhì)功能研究；核糖體分散和凝聚控制研究；表面活性劑功能研究（微囊）。
zeta電位分析儀典型應(yīng)用：
1.蛋白、縮氨酸、膠束、多糖、藥物制備、脂質(zhì)體、外切酶體；
2.聚合物膠乳、微乳液、油包水、水包油體系；
3.涂料、顏料、油漆、食品、化妝品配方；
4.陶瓷、耐火材料、炭黑、廢水處理。
zeta電位分析儀適用于納米材料，包括乳液，懸浮液，蛋白質(zhì)等樣品的粒度、Zeta電位及分子量的測(cè)量，用于表征和評(píng)判各種體系的粒徑分布、分子量大小以及體系穩(wěn)定性。zeta電位分析儀利用動(dòng)態(tài)光散射法檢測(cè)顆粒粒度，它會(huì)讓您對(duì)顆粒體系有一個(gè)快速而準(zhǔn)確的認(rèn)識(shí)，展示這些顆粒的大小以及隨著時(shí)間、pH值、溫度和濃度變化的情況；測(cè)量材料的表面電荷，了解材料表面上的電荷狀況，研究材料表面性能。
zeta電位分析儀是簡(jiǎn)單、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測(cè)量?jī)x器，其*的開放式樣品槽設(shè)計(jì)與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合，使其具有*的分辨率，足以分辨等電點(diǎn)附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測(cè)量?jī)x器中固有的電滲誤差的影響，從而使測(cè)量變得準(zhǔn)確而方便。zeta電位分析儀可更高靈敏度、高精度地評(píng)價(jià)單一納米粒子，并能*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。該儀器被廣泛應(yīng)用于陶瓷粒子、金屬納米粒子、石炭、制藥、病毒、顏料和涂料、化妝品、聚合物、食品和 CMP 等的檢測(cè)。
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